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金属膜电阻失效前后概率分布及可靠性分析

王倩男 何文辉

电子器件2021,Vol.44Issue(1):14-18,5.
电子器件2021,Vol.44Issue(1):14-18,5.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2021.01.003

金属膜电阻失效前后概率分布及可靠性分析

Probability Distribution and Reliability Analysis of Metal Film Resistance before and after Failure

王倩男 1何文辉1

作者信息

  • 1. 中国计量大学机电工程学院,浙江 杭州310018
  • 折叠

摘要

关键词

金属膜电阻/概率分布函数/可靠性

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王倩男,何文辉..金属膜电阻失效前后概率分布及可靠性分析[J].电子器件,2021,44(1):14-18,5.

基金项目

浙江省公益技术研究计划项目( LGF20F020011) ( LGF20F020011)

电子器件

OA北大核心CSTPCD

1005-9490

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