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TFT-LCD白点不良机理研究及改善

刘信 吴伟 郭会斌 江鹏 高玉杰 郭坤 杨志 程石 林鸿涛 毛大龙 盛子沫 赵剑

液晶与显示2021,Vol.36Issue(3):405-411,7.
液晶与显示2021,Vol.36Issue(3):405-411,7.DOI:10.37188/CJLCD.2020-0153

TFT-LCD白点不良机理研究及改善

Mechanism research and improvement of TFT-LCD white dot

刘信 1吴伟 1郭会斌 1江鹏 1高玉杰 1郭坤 1杨志 1程石 1林鸿涛 2毛大龙 1盛子沫 1赵剑1

作者信息

  • 1. 武汉京东方光电科技有限公司,湖北武汉430040
  • 2. 北京京东方显示技术有限公司,北京100176
  • 折叠

摘要

关键词

白点/反冲电压/Staebler-Wronski效应

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘信,吴伟,郭会斌,江鹏,高玉杰,郭坤,杨志,程石,林鸿涛,毛大龙,盛子沫,赵剑..TFT-LCD白点不良机理研究及改善[J].液晶与显示,2021,36(3):405-411,7.

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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