数码设计．CG WORLD2021，Vol.10Issue(7)：P.52-53,2.
基于改进Faster-Rcnn的电子元器件表面缺陷检测研究
陈禹铭 1文峰1
作者信息
- 1. 沈阳理工大学信息科学与工程学院,辽宁110159
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摘要
关键词
Faster-Rcnn/可变形卷积/FPN/ROI Align分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陈禹铭,文峰..基于改进Faster-Rcnn的电子元器件表面缺陷检测研究[J].数码设计．CG WORLD,2021,10(7):P.52-53,2.
