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一种单粒子效应加固输入接口电路的设计

关晓明 方健 赖荣兴 罗云钟

太赫兹科学与电子信息学报2021,Vol.19Issue(2):338-341,346,5.
太赫兹科学与电子信息学报2021,Vol.19Issue(2):338-341,346,5.DOI:10.11805/TKYDA2019526

一种单粒子效应加固输入接口电路的设计

Design of a single event effects hardened input interface circuit

关晓明 1方健 1赖荣兴 1罗云钟1

作者信息

  • 1. 电子科技大学 电子科学与工程学院,四川 成都 610054
  • 折叠

摘要

关键词

单粒子效应/单粒子翻转/双节点翻转/组合逻辑运算

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

关晓明,方健,赖荣兴,罗云钟..一种单粒子效应加固输入接口电路的设计[J].太赫兹科学与电子信息学报,2021,19(2):338-341,346,5.

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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