太赫兹科学与电子信息学报2021，Vol.19Issue(2)：347-351,360,6.DOI:10.11805/TKYDA2019421
集成电路的通用单粒子效应测试系统设计
Design of a general test system for integrated circuit Single Event Effect
杨婉婉 1刘海南 2高见头 1罗家俊 2滕瑞 1韩郑生2
作者信息
- 1. 中国科学院 微电子研究所,北京 100029
- 2. 中国科学院 硅器件技术重点实验室,北京 100029
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摘要
关键词
单粒子效应测试系统/旋转结构/角度辐射/虚拟仪器分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
杨婉婉,刘海南,高见头,罗家俊,滕瑞,韩郑生..集成电路的通用单粒子效应测试系统设计[J].太赫兹科学与电子信息学报,2021,19(2):347-351,360,6.
