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PDSOI NMOS器件激光模拟光电流效应

任尚清 王博博 蒋春生 钟乐 孙鹏 解磊

太赫兹科学与电子信息学报2021,Vol.19Issue(2):352-355,4.
太赫兹科学与电子信息学报2021,Vol.19Issue(2):352-355,4.DOI:10.11805/TKYDA2019450

PDSOI NMOS器件激光模拟光电流效应

Photocurrent effect of PDSOI NMOS device by laser simulation

任尚清 1王博博 2蒋春生 1钟乐 2孙鹏 1解磊2

作者信息

  • 1. 中国工程物理研究院 微系统与太赫兹研究中心,四川 成都 610200
  • 2. 中国工程物理研究院 电子工程研究所,四川 绵阳 621999
  • 折叠

摘要

关键词

N型金属氧化物半导体器件/部分耗尽型绝缘体上硅/激光模拟/光电流

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

任尚清,王博博,蒋春生,钟乐,孙鹏,解磊..PDSOI NMOS器件激光模拟光电流效应[J].太赫兹科学与电子信息学报,2021,19(2):352-355,4.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(619041164) (619041164)

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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