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基于GaN全桥LLC谐振变换器交错并联系统的损耗分析

高圣伟 贺琛 刘赫 董晨名

天津工业大学学报2021,Vol.40Issue(2):52-63,12.
天津工业大学学报2021,Vol.40Issue(2):52-63,12.DOI:10.3969/j.issn.1671-024x.2021.02.008

基于GaN全桥LLC谐振变换器交错并联系统的损耗分析

Loss analysis based on staggered parallel system of GaN full bridge LLC resonant converter

高圣伟 1贺琛 2刘赫 1董晨名2

作者信息

  • 1. 天津工业大学天津市电工电能新技术重点实验室,天津 300387
  • 2. 天津金沃能源科技股份有限公司,天津 300382
  • 折叠

摘要

关键词

单体增强型GaN HEMT/交错并联全桥LLC谐振变换器/寄生参数/单移相控制/三移相控制/损耗分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

高圣伟,贺琛,刘赫,董晨名..基于GaN全桥LLC谐振变换器交错并联系统的损耗分析[J].天津工业大学学报,2021,40(2):52-63,12.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(51807139) (51807139)

天津市科技计划资助项目(20YDTPJC01520) (20YDTPJC01520)

天津市研究生科研创新项目(2019YJSS026) (2019YJSS026)

天津工业大学学报

OA北大核心CSTPCD

1671-024X

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