质谱学报2021，Vol.42Issue(3)：326-333,8.DOI:10.7538/zpxb.2020.0065
邻近铀微粒的二次离子质谱测量干扰研究
Study on the Interferences of Adjacent Uranium Particles to Particle Anlysis by Secondary Ion Mass Spectrometry
张燕 1赵永刚 1王同兴 1沈彦 1王凡 1鹿捷1
作者信息
- 1. 中国原子能科学研究院,北京 102413
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摘要
关键词
二次离子质谱(SIMS)/微粒分析/微操作/核保障分类
化学化工引用本文复制引用
张燕,赵永刚,王同兴,沈彦,王凡,鹿捷..邻近铀微粒的二次离子质谱测量干扰研究[J].质谱学报,2021,42(3):326-333,8.
