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漏压对P-GaN HEMT导通电阻和阈值电压的影响

刘熙 叶星宁

电子科技2021,Vol.34Issue(6):56-60,5.
电子科技2021,Vol.34Issue(6):56-60,5.DOI:10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2021.06.010

漏压对P-GaN HEMT导通电阻和阈值电压的影响

Effect of Leakage Voltage on On-Resistance and Threshold Voltage of P-GaN HEMT

刘熙 1叶星宁1

作者信息

  • 1. 电子科技大学 电子科学与工程学院,四川 成都610000
  • 折叠

摘要

关键词

P-GaN器件/可靠性/导通电阻/阈值电压/关态时间/漏极电压/表面陷阱

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘熙,叶星宁..漏压对P-GaN HEMT导通电阻和阈值电压的影响[J].电子科技,2021,34(6):56-60,5.

基金项目

广东省自然科学基金(2019A1515011522) (2019A1515011522)

电子科技

1007-7820

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