理化检验-物理分册2021，Vol.57Issue(5)：54-58,5.DOI:10.11973/lhjy-wl202105013
航空机载光电设备连接盘裂纹的产生原因
Cause of Crack in Connecting Plate of Airborne Optoelectronic Equipment
伏克峰 1郝碧波1
作者信息
- 1. 凯迈(洛阳)测控有限公司,洛阳471009
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摘要
关键词
铸造镁合金/镁合金/裂纹/应力应变测试/缩松分类
矿业与冶金引用本文复制引用
伏克峰,郝碧波..航空机载光电设备连接盘裂纹的产生原因[J].理化检验-物理分册,2021,57(5):54-58,5.
