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高密度互连印制电路板孔金属化研究和进展

王赵云 金磊 杨家强 李威青 詹东平 杨防祖 孙世刚

电化学2021,Vol.27Issue(3):316-331,16.
电化学2021,Vol.27Issue(3):316-331,16.DOI:10.13208/j.electrochem.201119

高密度互连印制电路板孔金属化研究和进展

Studies and Progresses on Hole Metallization in High-Density Interconnected Printed Circuit Boards

王赵云 1金磊 1杨家强 1李威青 1詹东平 1杨防祖 1孙世刚1

作者信息

  • 1. 厦门大学化学化工学院,固体表面物理化学国家重点实验室,福建厦门361005
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摘要

关键词

印制电路板/孔金属化/化学镀/电子电镀/添加剂

引用本文复制引用

王赵云,金磊,杨家强,李威青,詹东平,杨防祖,孙世刚..高密度互连印制电路板孔金属化研究和进展[J].电化学,2021,27(3):316-331,16.

基金项目

国家自然科学基金项目(No.21972118)资助 (No.21972118)

电化学

OA北大核心CSCDCSTPCD

1006-3471

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