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高温竖向串扰发生机理的定量研究

刘俊 赵达裕 陈鹏 郭会斌 高玉杰

液晶与显示2021,Vol.36Issue(8):1128-1135,8.
液晶与显示2021,Vol.36Issue(8):1128-1135,8.DOI:10.37188/CJLCD.2021-0021

高温竖向串扰发生机理的定量研究

Quantitative study on the mechanism of high temperature vertical crosstalks

刘俊 1赵达裕 1陈鹏 1郭会斌 1高玉杰1

作者信息

  • 1. 武汉京东方光电科技有限公司,湖北 武汉 430000
  • 折叠

摘要

关键词

TFT-LCD/竖向串扰/定量/漏电流

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘俊,赵达裕,陈鹏,郭会斌,高玉杰..高温竖向串扰发生机理的定量研究[J].液晶与显示,2021,36(8):1128-1135,8.

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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