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基于Moffat休息型HMM退化过程的220kV断路器可靠性预测

崔昊杨 夏晟 周坤 张驯 张明达 孙益辉

高电压技术2021，Vol.47Issue(6)：2108-2116,9.
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高电压技术2021，Vol.47Issue(6)：2108-2116,9.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20200607

基于Moffat休息型HMM退化过程的220kV断路器可靠性预测

Reliability Prediction of 220 kV Circuit Breakers Based on Moffat Rest Hidden Markov Degradation Process

崔昊杨 1夏晟 1周坤 1张驯 2张明达 3孙益辉3

作者信息

  • 1. 上海电力大学电子与信息工程学院,上海200090
  • 2. 国网甘肃省电力公司电力科学研究院,兰州730050
  • 3. 国网浙江省电力公司奉化供电有限公司,奉化315500
  • 折叠

摘要

关键词

220kV断路器/Moffat休息/隐马尔科夫退化模型/关键构件/温度/可靠性预测

引用本文复制引用

崔昊杨,夏晟,周坤,张驯,张明达,孙益辉..基于Moffat休息型HMM退化过程的220kV断路器可靠性预测[J].高电压技术,2021,47(6):2108-2116,9.

基金项目

国家自然科学基金(61107081) （61107081）

上海市地方建设项目(15110500900 （）

14110500900). （）

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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