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基于栅控横向PNP双极晶体管的氢氛围中辐照损伤机制

缑石龙 马武英 姚志斌 何宝平 盛江坤 薛院院 潘琛

物理学报2021,Vol.70Issue(15):214-221,8.
物理学报2021,Vol.70Issue(15):214-221,8.DOI:10.7498/aps.70.20210351

基于栅控横向PNP双极晶体管的氢氛围中辐照损伤机制

Radiation mechanism of gate-controlled lateral PNP bipolar transistors in the hydrogen environment

缑石龙 1马武英 1姚志斌 1何宝平 1盛江坤 1薛院院 1潘琛1

作者信息

  • 1. 西北核技术研究所, 强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室, 西安 710024
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摘要

关键词

栅控晶体管/氢气/低剂量率辐照损伤增强效应/界面陷阱/氧化物陷阱电荷

引用本文复制引用

缑石龙,马武英,姚志斌,何宝平,盛江坤,薛院院,潘琛..基于栅控横向PNP双极晶体管的氢氛围中辐照损伤机制[J].物理学报,2021,70(15):214-221,8.

基金项目

强脉冲辐射模拟与效应国家重点实验室(批准号:SKLIPR1802Z)资助的课题. (批准号:SKLIPR1802Z)

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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