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SiC MOSFET栅源回路参数的串联扰动研究

张宇 李先允 王书征 唐昕杰 袁宇 卢乙

电气传动2021,Vol.51Issue(16):33-38,6.
电气传动2021,Vol.51Issue(16):33-38,6.DOI:10.19457/j.1001-2095.dqcd21595

SiC MOSFET栅源回路参数的串联扰动研究

Research on Series Disturbance of SiC MOSFET Gate-source Loop Parameters

张宇 1李先允 1王书征 1唐昕杰 1袁宇 1卢乙1

作者信息

  • 1. 南京工程学院电力工程学院,江苏 南京 211167
  • 折叠

摘要

关键词

碳化硅MOSFET/栅源回路/串联扰动/电压尖峰

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张宇,李先允,王书征,唐昕杰,袁宇,卢乙..SiC MOSFET栅源回路参数的串联扰动研究[J].电气传动,2021,51(16):33-38,6.

基金项目

江苏省重点研发计划项目(BE2018130) (BE2018130)

江苏省普通高校研究生科研创新计划项目(No.SJC X18_0575) (No.SJC X18_0575)

电气传动

OACSTPCD

1001-2095

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