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X射线参考辐射装置固有过滤层厚度的测量

杭仲斌 刘川凤 刘蕴韬 魏可新 宋明哲 王红玉

同位素2021,Vol.34Issue(5):433-439,7.
同位素2021,Vol.34Issue(5):433-439,7.DOI:10.7538/tws.2021.34.05.0433

X射线参考辐射装置固有过滤层厚度的测量

Measurement and Research of Intrinsic Filtering of X-Ray Optical Machine

杭仲斌 1刘川凤 1刘蕴韬 1魏可新 1宋明哲 1王红玉1

作者信息

  • 1. 中国原子能科学研究院,计量与校准技术重点实验室,北京 102413
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摘要

关键词

X射线/固有过滤层厚度/半值层法/自由空气电离室

分类

能源科技

引用本文复制引用

杭仲斌,刘川凤,刘蕴韬,魏可新,宋明哲,王红玉..X射线参考辐射装置固有过滤层厚度的测量[J].同位素,2021,34(5):433-439,7.

同位素

OACSTPCD

1000-7512

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