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基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系

邓文广 许叶潞 温建辉 黄碧钦 金昌连

液晶与显示2021,Vol.36Issue(10):1388-1394,7.
液晶与显示2021,Vol.36Issue(10):1388-1394,7.DOI:10.37188/CJLCD.2021-0119

基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系

Masurement system of LTPS-LCD panel based on evaluation of impurity ion content

邓文广 1许叶潞 1温建辉 1黄碧钦 1金昌连1

作者信息

  • 1. 厦门天马微电子有限公司,福建厦门361220
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摘要

关键词

残像/电压保持率/LTPS-LCD/测试盒/杂质离子

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

邓文广,许叶潞,温建辉,黄碧钦,金昌连..基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系[J].液晶与显示,2021,36(10):1388-1394,7.

基金项目

国家自然科学基金青年基金(No.61401425,No.61602432) (No.61401425,No.61602432)

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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