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基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测

胡亮 胡学娟 黄圳鸿 徐露 胡凯 张家铭

液晶与显示2021,Vol.36Issue(10):1395-1402,8.
液晶与显示2021,Vol.36Issue(10):1395-1402,8.DOI:10.37188/CJLCD.2021-0177

基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测

Mura defect detection based on effective background reconstruction and contrast enhancement

胡亮 1胡学娟 2黄圳鸿 1徐露 2胡凯 3张家铭1

作者信息

  • 1. 深圳技术大学中德智能制造学院,深圳518118
  • 2. 广东省先进光学精密制造重点实验室,深圳518118
  • 3. 广东省微纳光机电工程重点实验室,深圳518118
  • 折叠

摘要

关键词

TFT-LCD/Mura缺陷检测/背景重构/分段指数变换

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

胡亮,胡学娟,黄圳鸿,徐露,胡凯,张家铭..基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测[J].液晶与显示,2021,36(10):1395-1402,8.

基金项目

广东省普通高校特色创新类项目(No.2021KTSCX111) (No.2021KTSCX111)

深圳市坪山区科技创新专项(No.PSKG202006) (No.PSKG202006)

深圳技术大学2021年自制实验仪器设备项目(No.2021015777701059) (No.2021015777701059)

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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