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正弦表面结构的薄膜失稳形貌有限元分析和实验验证

杨玺琳 刘海东 贾飞 吴良科 古斌

重庆大学学报2021，Vol.44Issue(10)：95-105,11.
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重庆大学学报2021，Vol.44Issue(10)：95-105,11.DOI:10.11835/j.issn.1000-582X.2020.293

正弦表面结构的薄膜失稳形貌有限元分析和实验验证

Finite element analysis and experimental verification of surface instability morphology of thin film with sinusoidal surface structures

杨玺琳 1刘海东 1贾飞 2吴良科 3古斌1

作者信息

  • 1. 西南科技大学 制造科学与工程学院,四川 绵阳 621010
  • 2. 哈尔滨工业大学 航天科学与力学系,哈尔滨 150001
  • 3. 重庆大学 航空航天学院,重庆 400044
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摘要

关键词

正弦结构/薄膜失稳/数值模拟/失稳形貌

分类

数理科学

引用本文复制引用

杨玺琳,刘海东,贾飞,吴良科,古斌..正弦表面结构的薄膜失稳形貌有限元分析和实验验证[J].重庆大学学报,2021,44(10):95-105,11.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(11772276,11872324) （11772276,11872324）

四川省教育厅科技项目(18ZA0499). （18ZA0499）

重庆大学学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-582X

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