现代应用物理2021，Vol.12Issue(3)：145-150,6.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.2021.030607
高能质子辐照导致电荷耦合器件性能退化研究
Performance Degradation of Charge Coupled Devices Irradiationed by High Energy Proton
摘要
关键词
高能质子/位移损伤效应/电荷耦合器件/非电离能损/热像素分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
李钰,文林,周东,李豫东,郭旗..高能质子辐照导致电荷耦合器件性能退化研究[J].现代应用物理,2021,12(3):145-150,6.基金项目
天山青年计划资助项目(2018Q006) （2018Q006）
中科院西部之光计划资助项目(2020-XBQNXZ-004) （2020-XBQNXZ-004）
国家科技重大专项资助项目(2014ZX01022-301) （2014ZX01022-301）
