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基于单颗磨粒切削的硅片加工破碎损伤

王龙 汪刘应 刘顾 唐修检 袁晓静 许可俊

光学精密工程2021,Vol.29Issue(11):2632-2639,8.
光学精密工程2021,Vol.29Issue(11):2632-2639,8.DOI:10.37188/OPE.20212911.2632

基于单颗磨粒切削的硅片加工破碎损伤

Silicon wafer breakage damage based on single abrasive cutting

王龙 1汪刘应 1刘顾 1唐修检 2袁晓静 1许可俊1

作者信息

  • 1. 火箭军工程大学,陕西西安710000
  • 2. 陆军装甲兵学院装备再制造技术国防科技重点实验,北京100072
  • 折叠

摘要

关键词

硅片/切削/微米划痕/破碎损伤

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

王龙,汪刘应,刘顾,唐修检,袁晓静,许可俊..基于单颗磨粒切削的硅片加工破碎损伤[J].光学精密工程,2021,29(11):2632-2639,8.

基金项目

国家自然科学基金项目(No.51905542,No.51775555) (No.51905542,No.51775555)

陕西省高校科协青年人才托举计划项目(No.20190411) (No.20190411)

光学精密工程

OA北大核心CSCDCSTPCD

1004-924X

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