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氚深度分布对β射线诱发X射线光谱法测量能谱中Ar(Kα)强度的影响

陈杨 陈志林 杨阳 瞿金辉 程胜寒 李余

原子能科学技术2021,Vol.55Issue(12):2368-2373,6.
原子能科学技术2021,Vol.55Issue(12):2368-2373,6.DOI:10.7538/yzk.2020.youxian.0839

氚深度分布对β射线诱发X射线光谱法测量能谱中Ar(Kα)强度的影响

Effect of Depth Profile on Ar(Kα) Intensity of β-ray Induced X-ray Spectroscopy Spectrum in Tritium Measurement

陈杨 1陈志林 1杨阳 1瞿金辉 1程胜寒 1李余1

作者信息

  • 1. 中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四川绵阳621900
  • 折叠

摘要

关键词

β射线诱发X射线光谱法/β射线射程范围/深度分布/Ar(Kα)

分类

能源科技

引用本文复制引用

陈杨,陈志林,杨阳,瞿金辉,程胜寒,李余..氚深度分布对β射线诱发X射线光谱法测量能谱中Ar(Kα)强度的影响[J].原子能科学技术,2021,55(12):2368-2373,6.

基金项目

国家优秀青年科学基金(11922509) (11922509)

原子能科学技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6931

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