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探针电连接件的退化失效及寿命分析

邹振东 李兴圣 肖同军 贾云飞 卞雷祥

机电工程技术2021,Vol.50Issue(12):29-32,4.
机电工程技术2021,Vol.50Issue(12):29-32,4.DOI:10.3969/j.issn.1009-9492.2021.12.006

探针电连接件的退化失效及寿命分析

Degradation Failure and Life Analysis of Probe Electrical Connector

邹振东 1李兴圣 2肖同军 2贾云飞 1卞雷祥1

作者信息

  • 1. 南京理工大学机械工程学院,南京 210094
  • 2. 中兴通讯西丽中兴工业园,广东深圳 518000
  • 折叠

摘要

关键词

电连接件/失效分析/有限元仿真/寿命建模

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

邹振东,李兴圣,肖同军,贾云飞,卞雷祥..探针电连接件的退化失效及寿命分析[J].机电工程技术,2021,50(12):29-32,4.

基金项目

中央高校基本科研业务费专项资金项目(编号:30918011201) (编号:30918011201)

中兴通讯研究基金项目 ()

机电工程技术

1009-9492

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