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基于残差结构的SSD口罩检测

董艳花 张树美 赵俊莉

计算机技术与发展2021,Vol.31Issue(12):67-72,6.
计算机技术与发展2021,Vol.31Issue(12):67-72,6.DOI:10.3969/j.issn.1673-629X.2021.12.012

基于残差结构的SSD口罩检测

SSD Mask Detection Based on Residual Structure

董艳花 1张树美 1赵俊莉1

作者信息

  • 1. 青岛大学,山东 青岛 266071
  • 折叠

摘要

关键词

口罩检测/残差结构的SSD/分类定位/交叉熵损失函数/smooth L1 loss损失函数

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

董艳花,张树美,赵俊莉..基于残差结构的SSD口罩检测[J].计算机技术与发展,2021,31(12):67-72,6.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(61702293,41506198) (61702293,41506198)

虚拟现实应用教育部工程研究中心开发基金课题(MEOBNUEVRA201601) (MEOBNUEVRA201601)

计算机技术与发展

OACSTPCD

1673-629X

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