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一种对在片测量系统中串扰误差进行修正的新型校准方法

王一帮 吴爱华 刘晨 梁法国 栾鹏 霍晔 孙静 赵伟

计量学报2021,Vol.42Issue(12):1553-1558,6.
计量学报2021,Vol.42Issue(12):1553-1558,6.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2021.12.01

一种对在片测量系统中串扰误差进行修正的新型校准方法

A Novel Calibration Method at On-Wafer Measurement System Affected by Leakage

王一帮 1吴爱华 1刘晨 1梁法国 1栾鹏 1霍晔 1孙静 1赵伟2

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051
  • 2. 西安电子科技大学,陕西西安710071
  • 折叠

摘要

关键词

计量学/在片S参数/16项误差模型/串扰/SOLR

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

王一帮,吴爱华,刘晨,梁法国,栾鹏,霍晔,孙静,赵伟..一种对在片测量系统中串扰误差进行修正的新型校准方法[J].计量学报,2021,42(12):1553-1558,6.

基金项目

国家重点研发计划重大科学仪器设备开发专项(2016YFF0102105) (2016YFF0102105)

计量学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-1158

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