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面向工业过程难测参数建模的双窗口概念漂移检测

孙子健 汤健 乔俊飞

控制理论与应用2021,Vol.38Issue(12):1979-1992,14.
控制理论与应用2021,Vol.38Issue(12):1979-1992,14.DOI:10.7641/CTA.2021.00616

面向工业过程难测参数建模的双窗口概念漂移检测

Double window concept drift detection method for modeling of difficult-to-measure parameter in industrial processes

孙子健 1汤健 2乔俊飞3

作者信息

  • 1. 北京工业大学信息学部,北京100124
  • 2. 计算智能与智能系统北京市重点实验室,北京100124
  • 折叠

摘要

关键词

概念漂移/数据窗口/统计检验/样本分布/软测量

引用本文复制引用

孙子健,汤健,乔俊飞..面向工业过程难测参数建模的双窗口概念漂移检测[J].控制理论与应用,2021,38(12):1979-1992,14.

基金项目

国家自然科学基金项目(62073006,62021003,61890930–5),北京市自然科学基金项目(4212032,4192009),科学技术部国家重点研发计划项目(2018YFC1900800–5),矿冶过程自动控制技术国家(北京市)重点实验室项目(BGRIMM–KZSKL–2020–02)资助. (62073006,62021003,61890930–5)

控制理论与应用

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-8152

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