首页|期刊导航|现代信息科技|基于MK.1TE测试系统对芯片静电放电(ESD)测试分析

基于MK.1TE测试系统对芯片静电放电(ESD)测试分析

吕友成陈仲永聂帆宇叶武剑

现代信息科技2021，Vol.5Issue(18)：35-39,5.

现代信息科技2021，Vol.5Issue(18)：35-39,5.DOI:10.19850/j.cnki.2096-4706.2021.18.010

Analysis of Chip Electrostatic Discharge (ESD) Test Based on MK.1TE Test System

吕友成 ¹陈仲永 ¹聂帆宇 ¹叶武剑²

作者信息

静电放电/ESD/MK.1TE测试系统/ESD击穿的临界电压

信息技术与安全科学

吕友成,陈仲永,聂帆宇,叶武剑..基于MK.1TE测试系统对芯片静电放电(ESD)测试分析[J].现代信息科技,2021,5(18):35-39,5.

广东省重大科技专项(2018B010115002、2019B010140002) （2018B010115002、2019B010140002）

ISSN：2096-4706

访问量0

下载量0

段落导航