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基于Wiener过程电子式漏电断路器的剩余寿命预测

刘帼巾 李想 王泽 岳承浩

电工技术学报2022,Vol.37Issue(2):528-536,9.
电工技术学报2022,Vol.37Issue(2):528-536,9.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.200837

基于Wiener过程电子式漏电断路器的剩余寿命预测

Remaining Life Prediction of Electronic Residual Current Circuit Breaker Based on Wiener Process

刘帼巾 1李想 1王泽 1岳承浩1

作者信息

  • 1. 省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室(河北工业大学) 天津 300130
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摘要

关键词

性能退化/Wiener过程/恒定应力加速退化试验/剩余寿命预测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘帼巾,李想,王泽,岳承浩..基于Wiener过程电子式漏电断路器的剩余寿命预测[J].电工技术学报,2022,37(2):528-536,9.

基金项目

河北省自然科学基金项目(E2020202221)和河北省高等学校科学技术研究项目(ZD2019041)资助. (E2020202221)

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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