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基于FPGA+ARM的特高频局部放电检测仪的设计

江友华 黄荣昌 顾胜坚 杨兴武 吴卫民 刘军

现代电子技术2022,Vol.45Issue(2):21-25,5.
现代电子技术2022,Vol.45Issue(2):21-25,5.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2022.02.005

基于FPGA+ARM的特高频局部放电检测仪的设计

Design of FPGA+ARM-based detector for ultra-high frequency partial discharge

江友华 1黄荣昌 1顾胜坚 1杨兴武 2吴卫民 1刘军3

作者信息

  • 1. 上海电力大学,上海 201306
  • 2. 杭州钱江电气集团,浙江 杭州 311243
  • 3. 上海海事大学,上海 201306
  • 折叠

摘要

关键词

特高频局部放电/FPGA/ARM/FIR滤波器/信号检测/参数配置/系统测试

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

江友华,黄荣昌,顾胜坚,杨兴武,吴卫民,刘军..基于FPGA+ARM的特高频局部放电检测仪的设计[J].现代电子技术,2022,45(2):21-25,5.

基金项目

国家自然科学基金面上项目(51877130) (51877130)

上海市科技创新行动计划(19DZ1205402) (19DZ1205402)

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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