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考虑寄生参数影响的芯片RC-HBM静电测试模型

熊素琴 李求洋 肖志强

电力系统保护与控制2022,Vol.50Issue(4):172-179,8.
电力系统保护与控制2022,Vol.50Issue(4):172-179,8.DOI:10.19783/j.cnki.pspc.210450

考虑寄生参数影响的芯片RC-HBM静电测试模型

RC-HBM electrostatic test model of chip considering the influence of parasitic parameters

熊素琴 1李求洋 1肖志强2

作者信息

  • 1. 中国电力科学研究院有限公司,北京 100192
  • 2. 湖南大学电气与信息工程学院,湖南 长沙 410082
  • 折叠

摘要

关键词

电源芯片/HBM模型/ESD/寄生参数/静电放电电流

引用本文复制引用

熊素琴,李求洋,肖志强..考虑寄生参数影响的芯片RC-HBM静电测试模型[J].电力系统保护与控制,2022,50(4):172-179,8.

基金项目

国网公司科技项目资助"继电保护装置成熟国产存储和隔离电源替代技术研究"(5100-201946434A-0-0-00) (5100-201946434A-0-0-00)

电力系统保护与控制

OA北大核心CSCDCSTPCD

1674-3415

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