| 注册
首页|期刊导航|电器与能效管理技术|继电器贮存可靠性分析和加速退化试验综述

继电器贮存可靠性分析和加速退化试验综述

乔青云 王召斌 陈康宁 刘百鑫 朱佳淼

电器与能效管理技术Issue(1):1-6,6.
电器与能效管理技术Issue(1):1-6,6.DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2022.01.001

继电器贮存可靠性分析和加速退化试验综述

Review on Relay Storage Reliability Analysis and Accelerated Degradation Test

乔青云 1王召斌 1陈康宁 1刘百鑫 1朱佳淼1

作者信息

  • 1. 江苏科技大学 电子信息学院,江苏 镇江 212003
  • 折叠

摘要

关键词

继电器/失效机理/加速退化试验/寿命预测

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

乔青云,王召斌,陈康宁,刘百鑫,朱佳淼..继电器贮存可靠性分析和加速退化试验综述[J].电器与能效管理技术,2022,(1):1-6,6.

基金项目

国家自然科学基金项目(51507074) (51507074)

国防基础科研计划稳定支持专题项目(JCKYS2020604SSJS010) (JCKYS2020604SSJS010)

江苏省研究生科研与实践创新计划资助项目(KYCX21_3468,KYCX21_3478) (KYCX21_3468,KYCX21_3478)

电器与能效管理技术

2095-8188

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文