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一种物联网终端通用测试设备设计

邓炳光 禹斯译 闵小芳 周维海

电子器件2021,Vol.44Issue(6):1327-1332,6.
电子器件2021,Vol.44Issue(6):1327-1332,6.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2021.06.008

一种物联网终端通用测试设备设计

Design of a Universal Test Equipment for IoT Terminals

邓炳光 1禹斯译 1闵小芳 1周维海1

作者信息

  • 1. 重庆邮电大学通信与信息工程学院,重庆400065
  • 折叠

摘要

关键词

物联网终端/通用测试设备/ARM/FPGA/STM32/协议接口

分类

机械制造

引用本文复制引用

邓炳光,禹斯译,闵小芳,周维海..一种物联网终端通用测试设备设计[J].电子器件,2021,44(6):1327-1332,6.

基金项目

国家重点研发计划项目(2018YFB2100200) (2018YFB2100200)

电子器件

OA北大核心CSTPCD

1005-9490

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