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基于故障模式影响分析方法的脉冲行波管可靠性研究

庞月婵 王茹楠 薛静

真空电子技术Issue(1):P.48-50,60,4.
真空电子技术Issue(1):P.48-50,60,4.DOI:10.16540/j.cnki.cn11-2485/tn.2022.01.09

基于故障模式影响分析方法的脉冲行波管可靠性研究

庞月婵 1王茹楠 1薛静1

作者信息

  • 1. 北京真空电子技术研究所,北京100015
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摘要

关键词

故障模式影响分析/脉冲行波管/可靠性

分类

信息技术与安全科学

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庞月婵,王茹楠,薛静..基于故障模式影响分析方法的脉冲行波管可靠性研究[J].真空电子技术,2022,(1):P.48-50,60,4.

真空电子技术

1002-8935

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