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硅转接层高带宽存储互连通道信号完整性设计及仿真

李川 郑浩 王彦辉

计算机工程与科学2022,Vol.44Issue(2):P.199-206,8.
计算机工程与科学2022,Vol.44Issue(2):P.199-206,8.DOI:10.3969/j.issn.1007-130X.2022.02.002

硅转接层高带宽存储互连通道信号完整性设计及仿真

李川 1郑浩 1王彦辉1

作者信息

  • 1. 江南计算技术研究所,江苏无锡214083
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摘要

关键词

HBM/硅转接层/信号完整性/阻抗/插入损耗/总串扰/眼图

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李川,郑浩,王彦辉..硅转接层高带宽存储互连通道信号完整性设计及仿真[J].计算机工程与科学,2022,44(2):P.199-206,8.

计算机工程与科学

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-130X

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