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质子辐照下正照式和背照式图像传感器的单粒子瞬态效应

傅婧 蔡毓龙 李豫东 冯婕 文林 周东 郭旗

物理学报2022，Vol.71Issue(5)：P.176-183,8.
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物理学报2022，Vol.71Issue(5)：P.176-183,8.DOI:10.7498/aps.71.20211838

质子辐照下正照式和背照式图像传感器的单粒子瞬态效应

傅婧 1蔡毓龙 2李豫东 3冯婕 3文林 3周东 3郭旗3

作者信息

  • 1. 中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐830011 新疆电子信息材料与器件重点实验室,乌鲁木齐830011 中国科学院大学,北京100049
  • 2. 中国科学院微小卫星创新研究院,上海200011
  • 3. 中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐830011 新疆电子信息材料与器件重点实验室,乌鲁木齐830011
  • 折叠

摘要

关键词

CMOS/图像传感器/质子辐照/单粒子效应/瞬态亮斑

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

傅婧,蔡毓龙,李豫东,冯婕,文林,周东,郭旗..质子辐照下正照式和背照式图像传感器的单粒子瞬态效应[J].物理学报,2022,71(5):P.176-183,8.

基金项目

国家自然科学基金(批准号:12175307) （批准号:12175307）

中国科学院重点部署项目(批准号:ZDRW-CN-2020-2) （批准号:ZDRW-CN-2020-2）

新疆维吾尔自治区天山青年计划(批准号:2019Q085)资助的课题. （批准号:2019Q085）

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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