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集成电路UVM验证环境典型结构设计

孙晓东 王治强

测试技术学报2022,Vol.36Issue(2):135-140,6.
测试技术学报2022,Vol.36Issue(2):135-140,6.DOI:10.3969/j.issn.1671-7449.2022.02.008

集成电路UVM验证环境典型结构设计

Typical Structure Design of Integrated Circuit UVM Verification Environment

孙晓东 1王治强1

作者信息

  • 1. 大连东软信息学院 智能与电子工程学院,辽宁 大连 116023
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摘要

关键词

UVM/验证环境/总线协议/算法模块/控制模块

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

孙晓东,王治强..集成电路UVM验证环境典型结构设计[J].测试技术学报,2022,36(2):135-140,6.

测试技术学报

OACSTPCD

1671-7449

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