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一种用于毫米波器件本征在片S参数校准的新方法

王一帮吴爱华霍晔梁法国栾鹏刘晨杜静

计量学报2022，Vol.43Issue(3)：293-298,6.

计量学报2022，Vol.43Issue(3)：293-298,6.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2022.03.01

Development of A New Method for Millimeter-waveintrinsic On-wafer Measurements

王一帮 ¹吴爱华 ¹霍晔 ¹梁法国 ¹栾鹏 ¹刘晨 ¹杜静²

作者信息

计量学/毫米波器件/本征S参数/去嵌入测试/串扰/开路短路/校准

通用工业技术

王一帮,吴爱华,霍晔,梁法国,栾鹏,刘晨,杜静..一种用于毫米波器件本征在片S参数校准的新方法[J].计量学报,2022,43(3):293-298,6.

河北省省级科技计划(206Z0201G) （206Z0201G）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1000-1158

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