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一种可编程式模拟芯片自动测试方法及其应用

李演明 黄晟睿 邓新安 张春红 沈宇衡

现代电子技术2022,Vol.45Issue(8):29-34,6.
现代电子技术2022,Vol.45Issue(8):29-34,6.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2022.08.006

一种可编程式模拟芯片自动测试方法及其应用

A programmable automatic testing method and application for analog chip

李演明 1黄晟睿 1邓新安 1张春红 1沈宇衡1

作者信息

  • 1. 长安大学 电子与控制工程学院,陕西 西安 710064
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摘要

关键词

模拟芯片/自动测试方法/OTP Trimming技术/芯片功能测试/测试板设计/测试验证

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李演明,黄晟睿,邓新安,张春红,沈宇衡..一种可编程式模拟芯片自动测试方法及其应用[J].现代电子技术,2022,45(8):29-34,6.

基金项目

陕西省重点研发计划项目(2019ZDLGY15-04-02) (2019ZDLGY15-04-02)

西安市科技计划项目(201805045YD23CG29(2)) (201805045YD23CG29(2)

国家自然科学基金项目(61704009) (61704009)

现代电子技术

1004-373X

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