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微处理器中子单粒子效应测试系统设计与试验研究

段丙皇 杜川华 朱小锋 李悦 陈泉佑

原子能科学技术2022，Vol.56Issue(4)：734-741,8.
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原子能科学技术2022，Vol.56Issue(4)：734-741,8.DOI:10.7538/yzk.2021.youxian.0786

微处理器中子单粒子效应测试系统设计与试验研究

Design and Test of Neutron-induced Single Event Effect Monitoring System on Microprocessor

段丙皇 1杜川华 1朱小锋 1李悦 2陈泉佑1

作者信息

  • 1. 中国工程物理研究院 电子工程研究所,四川 绵阳 621999
  • 2. 中国科学院 国家空间科学中心,北京 100190
  • 折叠

摘要

关键词

微处理器/中子单粒子效应/14 MeV中子/测试系统

分类

数理科学

引用本文复制引用

段丙皇,杜川华,朱小锋,李悦,陈泉佑..微处理器中子单粒子效应测试系统设计与试验研究[J].原子能科学技术,2022,56(4):734-741,8.

基金项目

国家自然科学基金(12005200,11705172) （12005200,11705172）

原子能科学技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6931

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