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日盲紫外成像技术与应用的若干分析

许强 刘晓东 刘志成

真空电子技术Issue(2):P.56-62,7.
真空电子技术Issue(2):P.56-62,7.DOI:10.16540/j.cnki.cn11-2485/tn.2022.02.08

日盲紫外成像技术与应用的若干分析

许强 1刘晓东 2刘志成3

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司光电研究院,天津300308
  • 2. 中国人民解放军93129部队,北京
  • 3. 空装驻天津地区第三军代室,天津300308
  • 折叠

摘要

关键词

日盲光谱/紫外成像/真空光电器件/军事应用

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

许强,刘晓东,刘志成..日盲紫外成像技术与应用的若干分析[J].真空电子技术,2022,(2):P.56-62,7.

真空电子技术

1002-8935

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