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灌胶工艺对陶封隔离器键合点影响仿真分析

黄姣英 何明瑞 高成 高然

现代电子技术2022,Vol.45Issue(10):P.5-9,5.
现代电子技术2022,Vol.45Issue(10):P.5-9,5.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2022.10.002

灌胶工艺对陶封隔离器键合点影响仿真分析

黄姣英 1何明瑞 1高成 1高然1

作者信息

  • 1. 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京100191
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摘要

关键词

灌胶工艺/陶瓷封装/数字隔离器/键合点失效/键合丝应变分析/仿真模型

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

黄姣英,何明瑞,高成,高然..灌胶工艺对陶封隔离器键合点影响仿真分析[J].现代电子技术,2022,45(10):P.5-9,5.

基金项目

军用电子元器件科研项目(1707WK0012)。 (1707WK0012)

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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