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板级电路检测中的EMI热点分析技术及算法

何宇昊 刘晨 张兆华 张明辉 慕文博

现代电子技术2022,Vol.45Issue(9):P.132-136,5.
现代电子技术2022,Vol.45Issue(9):P.132-136,5.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2022.09.023

板级电路检测中的EMI热点分析技术及算法

何宇昊 1刘晨 2张兆华 1张明辉 1慕文博2

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第十四研究所,江苏南京210039
  • 2. 西安电子科技大学电路CAD研究所,陕西西安710071
  • 折叠

摘要

关键词

EMI热点分析/PCB电路板/电路检测/异常区域识别/诊断规则数据库/技术验证

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

何宇昊,刘晨,张兆华,张明辉,慕文博..板级电路检测中的EMI热点分析技术及算法[J].现代电子技术,2022,45(9):P.132-136,5.

基金项目

国家国防科技工业局科研基础项目(JCKY2018210A001)。 (JCKY2018210A001)

现代电子技术

OACSTPCD

1004-373X

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