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一种28nm工艺下抗单粒子翻转SRAM的12T存储单元设计

韩源源 程旭 韩军 曾晓洋

现代应用物理2022,Vol.13Issue(1):P.135-142,171,9.
现代应用物理2022,Vol.13Issue(1):P.135-142,171,9.

一种28nm工艺下抗单粒子翻转SRAM的12T存储单元设计

韩源源 1程旭 1韩军 1曾晓洋1

作者信息

  • 1. 复旦大学微电子学院,上海201203
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摘要

关键词

SRAM/存储单元/单粒子翻转/多节点翻转/临界电荷

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

韩源源,程旭,韩军,曾晓洋..一种28nm工艺下抗单粒子翻转SRAM的12T存储单元设计[J].现代应用物理,2022,13(1):P.135-142,171,9.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(61525401,11690045,11690040,61574041) (61525401,11690045,11690040,61574041)

国家科技重大专项资助项目(2018ZX01029-101) (2018ZX01029-101)

上海市学术/技术研究带头人基金资助项目(16XD1400300) (16XD1400300)

上海市教委重大科技创新基金资助项目(2017-01-07-00-07-E00026) (2017-01-07-00-07-E00026)

强脉冲辐射模拟与效应国家重点实验室基金资助项目(SKLIPR1614)。 (SKLIPR1614)

现代应用物理

OACSTPCD

2095-6223

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