南京邮电大学学报：自然科学版2022，Vol.42Issue(2)：P.1-7,7.DOI:10.14132/j.cnki.1673-5439.2022.02.005
GaN HEMT E/F3类功率放大器温度可靠性研究
摘要
关键词
GaN HEMT/E/F3类/温度可靠性/可靠性测试分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
林倩,贾立宁,胡单辉,陈思维,刘林盛,刘畅,刘建利..GaN HEMT E/F3类功率放大器温度可靠性研究[J].南京邮电大学学报：自然科学版,2022,42(2):P.1-7,7.基金项目
国家自然科学基金(62161046) （62161046）
2021年中科院西部之光青年学者项目和青海民族大学研究生创新项目(10M2021009)资助项目。 （10M2021009）
