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基于图形化修正的SiC MOSFET等效建模方法

王梓丞 赖耀康 王浩南 曹玉峰 叶雪荣 翟国富

电器与能效管理技术Issue(4):6-11,6.
电器与能效管理技术Issue(4):6-11,6.DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2022.04.002

基于图形化修正的SiC MOSFET等效建模方法

Equivalent Modeling Method of SiC MOSFET Based on Graphical Modification

王梓丞 1赖耀康 2王浩南 1曹玉峰 2叶雪荣 1翟国富1

作者信息

  • 1. 哈尔滨工业大学电器与电子可靠性研究所,黑龙江 哈尔滨 150001
  • 2. 北京科通电子继电器有限公司设计中心,北京 100176
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摘要

关键词

SiC MOSFET/建模/图形化修正/仿真/曲线拟合

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王梓丞,赖耀康,王浩南,曹玉峰,叶雪荣,翟国富..基于图形化修正的SiC MOSFET等效建模方法[J].电器与能效管理技术,2022,(4):6-11,6.

电器与能效管理技术

2095-8188

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