物理学报2022，Vol.71Issue(11)：383-389,7.DOI:10.7498/aps.71.20212405
质子辐照作用下浮栅单元的数据翻转及错误退火
Data inversion and erroneous annealing of floating gate cell under proton radiation
刘晔 1郭红霞 2琚安安 1张凤祁 2潘霄宇 2张鸿 1顾朝桥 1柳奕天 1冯亚辉1
作者信息
- 1. 湘潭大学材料科学与学院, 湘潭 411105
- 2. 西北核技术研究所, 西安 710024
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摘要
关键词
flash存储器/质子辐照/单粒子翻转/多陷阱辅助导电通道引用本文复制引用
刘晔,郭红霞,琚安安,张凤祁,潘霄宇,张鸿,顾朝桥,柳奕天,冯亚辉..质子辐照作用下浮栅单元的数据翻转及错误退火[J].物理学报,2022,71(11):383-389,7.
