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基于双方差随机过程的半导体激光器寿命评估

李军星 李燕科 牛凯岑 邱明 王治华 庞晓旭 陈立海

工程设计学报2022,Vol.29Issue(3):293-299,7.
工程设计学报2022,Vol.29Issue(3):293-299,7.DOI:10.3785/j.issn.1006-754X.2022.00.042

基于双方差随机过程的半导体激光器寿命评估

Lifetime evaluation of semiconductor laser based on dual-variance stochastic process

李军星 1李燕科 2牛凯岑 1邱明 1王治华 1庞晓旭 2陈立海3

作者信息

  • 1. 河南科技大学机电工程学院,河南洛阳 471003
  • 2. 机械装备先进制造河南省协同创新中心,河南洛阳 471003
  • 3. 北京航空航天大学航空科学与工程学院,北京 100083
  • 折叠

摘要

关键词

半导体激光器/寿命评估/双方差随机过程/性能退化

分类

机械制造

引用本文复制引用

李军星,李燕科,牛凯岑,邱明,王治华,庞晓旭,陈立海..基于双方差随机过程的半导体激光器寿命评估[J].工程设计学报,2022,29(3):293-299,7.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(52005159) (52005159)

国家重点研发计划资助项目(2019YFB2004403) (2019YFB2004403)

河南省科技攻关计划资助项目(222102220061,202102210083) (222102220061,202102210083)

河南省高等学校青年骨干教师培养计划资助项目(2021GGJS048) (2021GGJS048)

工程设计学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1006-754X

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