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继电器银基触点的失效形式及防护研究

黄义隆 邓晶 陈欢 林道谭 张怿宁

电子器件2022,Vol.45Issue(2):267-271,5.
电子器件2022,Vol.45Issue(2):267-271,5.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2022.02.0004

继电器银基触点的失效形式及防护研究

Investigation on Failure Analysis and Protection of Silver-Based Contacts in Relays

黄义隆 1邓晶 2陈欢 1林道谭 2张怿宁1

作者信息

  • 1. 中国南方电网超高压输电公司检修试验中心,广东 广州510670
  • 2. 工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州510610
  • 折叠

摘要

关键词

电磁继电器/银基触点/硫化腐蚀/可靠性/失效机理

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

黄义隆,邓晶,陈欢,林道谭,张怿宁..继电器银基触点的失效形式及防护研究[J].电子器件,2022,45(2):267-271,5.

电子器件

OA北大核心CSTPCD

1005-9490

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