电工技术学报2022，Vol.37Issue(13)：3304-3316,3340,14.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.210792
多芯片并联IGBT模块老化特征参量甄选研究
Selection of Aging Characteristic Parameter for Multi-Chips Parallel IGBT Module
摘要
关键词
多芯片并联IGBT/磁感应强度/老化特征参量/状态监测分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
丁雪妮,陈民铀,赖伟,罗丹,魏云海..多芯片并联IGBT模块老化特征参量甄选研究[J].电工技术学报,2022,37(13):3304-3316,3340,14.基金项目
国家重点研发计划(2018YFB0905800)、中央高校基本科研业务费(2020CDJQY-A026)和国家自然科学基金(51707024)资助项目. （2018YFB0905800）
