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SF6气氛中表面电荷对环氧树脂气固界面电子倍增过程的影响机制

许航 司马文霞 孙魄韬 邵千秋 徐建伟 李闯

高电压技术2022,Vol.48Issue(5):1716-1725,10.
高电压技术2022,Vol.48Issue(5):1716-1725,10.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20211402

SF6气氛中表面电荷对环氧树脂气固界面电子倍增过程的影响机制

Effect of Surface Charge on Electron Multiplication Process of ER/SF6 Interface

许航 1司马文霞 1孙魄韬 1邵千秋 1徐建伟 1李闯1

作者信息

  • 1. 重庆大学电气工程学院输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆400044
  • 折叠

摘要

关键词

表面电荷/闪络起始电压/闪络电压/临界场强/电子崩

引用本文复制引用

许航,司马文霞,孙魄韬,邵千秋,徐建伟,李闯..SF6气氛中表面电荷对环氧树脂气固界面电子倍增过程的影响机制[J].高电压技术,2022,48(5):1716-1725,10.

基金项目

国家自然科学基金(51837002 ()

52077014) ()

强电磁场环境模拟与防护重点实验室基金(6142205200103) (6142205200103)

国家重点研发计划(2017YFB0902702). (2017YFB0902702)

高电压技术

OA北大核心

1003-6520

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